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      氣載顆粒計數(shù)器

      更新日期:2025-03-05

      產(chǎn)品型號:APC 610

      產(chǎn)品描述:  本儀器基于顆粒消光原理,采用獨創(chuàng)的光學(xué)空間低通濾波硬件技術(shù),結(jié)合衍射修正算法專利,能準(zhǔn)確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個數(shù),覆蓋了當(dāng)前儀器市場上未能監(jiān)控大顆粒的痛點。

      目前已有的光阻法顆粒計數(shù)器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于無塵室的空氣中顆粒(氣載顆粒)監(jiān)控, 但是由于光路原理和采樣算法等局限設(shè)計, 現(xiàn)有的光阻法儀器無法對空氣中的大顆粒進(jìn)行較為準(zhǔn)確的采樣以及測量。
      本儀器基于顆粒消光原理,采用獨創(chuàng)的光學(xué)空間低通濾波硬件技術(shù),結(jié)合衍射修正算法專利,能準(zhǔn)確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個數(shù),覆蓋了當(dāng)前儀器市場上未能監(jiān)控大顆粒的痛點。

       

      APC 610氣載顆粒計數(shù)器vs傳統(tǒng)光阻法顆粒計數(shù)器

       

       

      真理光學(xué)APC 610 氣載顆粒計數(shù)器

       

      傳統(tǒng)光阻法顆粒測試

      能夠測量顆粒的真實幾何粒徑

      只能測量顆粒的等效消光粒徑

      測量準(zhǔn)確性不受顆粒的折射率和吸收系數(shù)影響,無論什么材料組成的顆粒,都能得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果

      受顆粒材料的折射率和吸收系數(shù)影響, 比如較低吸收系數(shù)的顆粒, 測量結(jié)果會偏?。环粗?,測量結(jié)果會偏大

      測量準(zhǔn)確性高,粒徑測量的理論誤差不超過1%

      準(zhǔn)確性無保證

      能提供詳盡的粒度分布數(shù)據(jù)

      只能提供粗略的粒度分段數(shù)據(jù)

      測量單元與驅(qū)動單元分離,并與采樣斗直接相連設(shè)計(專利技術(shù)),測量單元可放置到狹小空間測量,避免了管道污染對測量準(zhǔn)確性的影響

      只能把采樣斗放置到測量空間,管道內(nèi)的顆粒沉積與污染直接影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性

      測量單元內(nèi)測量室和采樣斗可拆卸(專利技術(shù)),便于清潔和更換;而管道的污染對測量無影響

      測量室清潔困難,管道難以徹底清洗

       

        

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